| 比较器数 | 双路 | 输入失调电压(Vos) | 370uV |
| 输入偏置电流(Ib) | 3.5nA | 传播延迟(tpd) | 1us |
| 输出类型 | 开漏 | 输出模式 | TTL;CMOS |
| 静态电流(Iq) | 400uA | 工作温度 | -40℃~+85℃ |
| 最大电源宽度(Vdd-Vss) | 36V | 单电源 | 2V~36V |
| 输入失调电流(Ios) | 0.5nA | 响应时间(tr) | 1us |
LM393BIDR 是德州仪器(Texas Instruments)推出的一款高性能双比较器,封装形式为8引脚的SOIC封装,旨在满足多种电子应用的需求。凭借其宽广的工作电压范围和出色的静态电流特性,LM393BIDR 是一款理想的选择,用于信号检测、比较和转换等广泛应用。
LM393BIDR可广泛用于各种电子应用,包括但不限于:
LM393BIDR采用的是表面贴装型(SMD),封装形式为8-SOIC。该封装方式使元器件可以更为紧凑地安装在电路板上,有效节约空间,并且支持自动化焊接,降低生产成本。
LM393BIDR 是功能强大、性能稳定的双比较器,适合用于各种需要信号比较和电压监测的应用。其多样的输入和输出特性,加上宽广的工作电压范围和低功耗设计,使其成为现代电子设计中的热门选择。不论是在工业自动化、消费电子,还是在汽车电子等领域,LM393BIDR 都能发挥出色的性能,帮助设计工程师提升产品的整体性能与可靠性。