
| 分辨率 | 14位 | 通道数 | 2 |
| 接口类型 | SPI | 工作电压 | 1.8V~3.3V |
| 输出类型 | 电压-缓冲 | 工作温度 | -40℃~+85℃ |
| 采样率 | 65MHz | 基准电压源 | 内置 |
| 数据速率 | 130MHz | 静态电流 | 2mA |

AFE7071IRGZR是德州仪器(TI)推出的一款双通道、14位高速数模转换芯片(DAC),专为需要高精度、高速度模拟信号输出的场景设计,兼具小尺寸封装与低功耗特性,适配工业控制、通信系统、测试测量等多领域应用。
作为TI模拟混合信号产品线的一员,AFE7071IRGZR依托TI在高速DAC领域的技术积累,针对“高速数据转换+简化系统设计”需求优化:既保证14位精度与65MHz采样率的性能,又通过内置基准、电压缓冲输出等设计减少外部元件,降低系统复杂度。
两个DAC通道支持同步触发与独立配置,可同时生成相同或不同的模拟信号:例如通信系统中,一路生成中频载波,另一路生成调制信号,无需额外同步电路,简化多通道系统设计。
传统高速DAC常需外部高精度基准,AFE7071IRGZR内置稳定基准,直接输出精准电压参考,减少BOM(物料清单)成本与PCB布线复杂度,尤其适合空间受限的便携设备。
输出端内置电压缓冲器,具备低输出阻抗(典型值<10Ω),可直接驱动50Ω/75Ω负载(如射频前端、示波器探头),无需额外运放缓冲,进一步压缩系统体积。
SPI接口支持最高130MHz数据速率,可快速传输14位转换数据,满足实时信号生成需求(如软件无线电SDR的发射端,需实时更新DAC输出波形)。
作为SDR发射端的核心DAC,AFE7071IRGZR可生成中频(IF)或射频(RF)信号,配合FPGA实现多模式通信(如4G/5G基站测试、业余无线电),其高速采样与双通道特性适配多载波信号生成。
小尺寸VQFN封装与低功耗(2mA静态电流),适合手持示波器、便携式信号发生器等电池供电设备,兼顾性能与续航。
AFE7071IRGZR采用VQFN-48-EP(7×7mm)封装:
总结:AFE7071IRGZR是一款高性价比的高速高精度DAC,平衡了性能、体积与功耗,适配多领域应用需求,尤其适合需要简化系统设计、宽温工作的工业与通信场景。