AI定制芯片推动先进封装:高密度RDL与面板级光刻挑战

AI驱动的定制芯片正推动先进封装向高密度重分布层(RDL)、硅通孔(TSV)和细间距扇出互连发展。与前端光刻不同,封装光刻的特征尺寸(feature size)通常在1 µm左右,因此套刻精度(overlay)、吞吐量和热稳定性比持续缩小关键尺寸(CD)更为关键;随着基板从300mm晶圆扩展到最大600 x 600mm的面板,这些要求还在进一步提高。

ETEL与HEIDENHAIN的专家分析了运动平台必须满足的性能。由于overlay要求常常低于100nm,一款具有代表性的气浮平台(air-bearing stage)在300mm行程内、扫描速度最高达1,000 mm/s时,水平直线度保持在±150nm以内,垂直直线度保持在±120nm以内。扫描过程中的速度稳定性以及快速移动并稳定(move-and-settle)性能,对吞吐量同样重要。

热稳定性是另一个关键因素。直线电机产生的热量和工艺温度波动可能导致overlay漂移,因此专家介绍了水冷滑座接口与磁路,以及安装在热解耦结构上的编码器光栅尺(encoder scales),从而在长时间生产运行中让计量环路与漂移隔离。

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